Vivado综合时出现[Synth 8-91] ambiguous clock in event control（2021-11-24 ） 在网上找了一波，改了一波，发现并没有消掉错误，头比较大，最终还是成功解决掉了。产生这种错误有两种情况第一种情况：定位在这个always块，我们通常习惯边缘触发，时钟上升沿和复位下降沿写到一起，但是，在always块里面并没有初始化的一些变量，也就是我们并没有用到rst_n，所以综合的时候就会报出上面的错误，将触发模式更改为always@(posedge clk)即可。第二种情况就是赋值冲突：同一个always块里可以允许两个if并行处理，但是这两个if所处理的内容不能有所交集，不然会产生赋值冲突，硬件电路不知道先处理哪个if的操作，也不能构建硬件电路，举个例子，如下图：第一个if else模块和第二个if else模块都对cnt进行了赋值，这是不允许的，综合是不能通过的，也会报相应错误。有道云笔记2021-11-24 18:24:11

芯片在ATE阶段主要是检测什么？ATE在芯片制造过程中处于什么阶段？（2022-08-05） 芯片在测试阶段主要检测其在制造过程中的缺陷。ATE测试是在post-silicon阶段，也就是制造完成后，对芯片进行测试。为什么要做测试？在这里要引出来两个概念defects和fault models，也就是是缺陷和故障模型。缺陷：是指电路因物质方面的原因而改变了其本来的结构，它出现在器件制造或使用阶段，通常是指因制造加工条件的不正常和工艺设计有误等造成电路不正常的物理结构，例如引线的开路、短路等.故障：是缺陷抽象级的表示，由于引起芯片发生故障的制造缺陷原因多种多样，为了便于分析和判断故障，需要将故障的特征进行抽象和分类，把呈现同样效果的故障归并成同一种故障类型，并使用同一种描述方法，这种故障描述方式称为故障模型。ATE测试就是为了检查制造缺陷过程中的缺陷。更接下来谈谈ATE，之前在另一个回答下也详细介绍过。芯片测试概述芯片测试分两个阶段，一个是CP（Chip Probing）测试，也就是晶圆（Wafer）测试。另外一个是FT（Final Test）测试，也就是把芯片封装好再进行的测试。CP测试的目的就是在封装前就把坏的芯片筛选出来，以节省封装的成本。同时可以更直接的知道Wafer 的良率。CP测试可检查fab厂制造的工艺水平。现在对于一般的wafer成熟工艺，很多公司多把CP给省了，以减少CP测试成本。具体做不做CP测试，就是封装成本和CP测试成本综合考量的结果。一片晶圆越靠近边缘，die（一个小方格，也就是一个未封装的芯片）出问题的概率越大。随着芯片规模的越来越大，测试也更为复杂。ATE（Automatic Test Equipment）也就应运而生。 目前ATE公司最大的是Teradyne和爱德万，NI目前也在做这一块，并且很多小公司都在用NI的仪器。国内的公司知名的有长川科技。ATE作为集成了众多高精密的Instruments的设备，价格自然不菲。一台泰瑞达的高端Ultra Flex可以买上海的几套房！芯片测试流程在测试之前，当然要有ATE设备，CP测试需要Probe Card, FT测试需要Load board, Socckt等。来一张全家福吧。最下边左一是Load Board(又叫DUT Board), 左二是Probe Card.然后由芯片设计公司来提供Design Spec和Test Spec(datasheet)来制定Test Plan,开发测试程序，建立测试项。Test Plan示意图：一般测试通常包含以下测试项：DC parameters Test主要包含以下测试，Continuity测试(又称open/short test)主要是检查芯片的引脚以及和机台的连接是否完好。其余的测试都是检查DC电气参数是否在一定的范围内。Continuity TestLeakage Test (IIL/IIH)Power Supply Current Test (IDDQ)Other Current/Voltage Test (IOZL/IOZH, IOS, VOL/IOL, VOH/IOH)LDO，DCDC 电源测试。以下这张图就是open/short test原理示意图，DUT（Device Under Test）的引脚都挂有上下两个保护二极管，根据二极管单向导通以及截至电压的特性，对其拉/灌电流，然后测试电压，看起是否在设定的limit范围内。整个过程是由ATE里的instruments PE(Pin Electronics)完成的。Digital Functional Test这部分的测试主要是跑测试向量（pattern），pattern则是设计公司的DFT工程师用ATPG（auto test pattern generation）工具生成的。pattern测试基本就是加激励，然后捕捉输出，再和期望值进行比较。与Functional Test相对应的的是Structure Test，应用Structure Test能更好的提高覆盖率。当然还有Build-in-Self-Test (BIST）主要是针对memory进行的测试。AC Parameters Test主要是AC Timing Tests，包含Setup Time, Hold Time, Propagation Delay等时序的检查。ADC and DAC Test主要是数模/模数混合测试，检查信号经过ADC/DAC后的信号是否符合期望，这个地方涉及到的信号知识比较多。总体来说包含静态测试和动态测试。Static Test – Histogram method (INL, DNL)Dynamic Test – SNR, THD, SINAD其他测试除了以上常规测试项，根据芯片的类型不同可能会进行不同的测试，比如RF测试，SerDes高速测试。除此之外还有Efuse测试，Efuse最终会在芯片上烧写这个芯片的基本信息，包括制造厂商代号，wafer的批次及编号，这个die在wafer上的坐标以及时间等，方便后续对有问题芯片的溯源。一个基本的测试流程图如下： 测试流程图 所有的测试项都是在ATE上执行的，一般会执行几秒到几十秒，因为ATE是根据机时来付费的（很少有海思，苹果这种土豪公司一次买数十台），所以缩短测试时间变得尤其重要！另外一般芯片在量产测试的时候，都是百万颗或者千万颗，每个芯片节省一秒，总体来说缩短的时间还是很可观的。在测试执行完成后，ATE会输出一个Datalog，以显示测试结果。对于测试pass或fail测试项的不同，也会对其进行分类(Bin)，最后由Handler分拣。datalog 示意图：以上就是芯片的测试完整流程。再放两张芯片测试的封测厂/实验室的环境图： 封测厂需要穿静电服 写在最后：一个完备的的芯片测试不是靠芯片测试工程师一个人完成的，而是需要设计工程师，DFT工程师的支持，以及由可靠的EDA工具，优秀的硬件支撑等多方因素共同决定的。芯片测试是极其重要的一环，有缺陷的芯片能发现的越早越好。在芯片领域有个十倍定律，从设计-->制造-->封装测试-->系统级应用，每晚发现一个环节，芯片公司付出的成本将增加十倍！！！所以测试是设计公司尤其注重的，如果把有功能缺陷的芯片卖给客户，损失是极其惨重的，不仅是经济上的赔偿，还有损信誉。因此芯片测试的成本也越来越高！在 IC 行业，每一个环节都要十分小心，一次流片的费用在数十万美金，一天的ATE机台使用几百美金。而一个芯片的利润可能只有几美分。这也是IC行业投资周期长，收益少的原因，基本前几年都在亏钱。幸运的是国家越来越重视芯片了，期待国内IC发展能越来越好。摘自知乎有道云笔记2022-08-05 13:45:35

SWD协议通信的简单总结（2022-08-05） 对SWD协议做一个简单的总结SWD协议1.SWD协议框图SWD协议可以配置单片机内部几乎所有的寄存器。整个SWD过程是分级进行的，时钟信号由SWCLK 管脚输入，数据信号从SWDIO管脚输入输出。首先HOST对SW-DP进行操作，确定AP寄存器的参数，达到对Cortex Memory Map进行操作。Debug Access Port(DAP)由两部分组成：Debug Port(DP)Memory Access Port(MEM-AP)(AP)2.DAP寄存器1、DP寄存器IDCODE：识别码寄存器，用于识别SW-DP。ID：0x0BB11477(M0)ABORT：中止寄存器，强制AP事务中止。在通信中，若发生粘性错 误位置1(ack = 4)。将0b1写入ABORT中，会生成一个DAP中止使当前AP事务中止。CTRL_STAT_W/R：控制状态寄存器，用于控制和获取有关DP的状态信息。SELECT：AHB-AP选择寄存器，选择要访问的端口(AP)和AP中的bank地址和DP的bank地址。RDBUFF：读缓冲寄存器，在SW-DP上，RDBUFF显示了在上一次AP读取期间捕获的数据，允许重复返回值而不生成新的AP访问。2、AP寄存器CSW_W：控制/状态字寄存器，CSW配置和控制通过MEM-AP访问连接的内存系统。size：32bit-0b010；16bit-0b001TAR_W：传送地址寄存器，TAR保存要通过AP访问的内存地址。DRW_W/R：数据读/写寄存器，DRW将AP访问中传递的值直接映射到TAR中指定的地址的一个或多个内存访问。IDR：识别寄存器，IDR标识访问的端口3.读/写时序及命令1、SWD时序1)成功的写时序 (烧录器往DP或MEM-AP寄存器的写操作)2)成功的读时序 (指烧录器读取DP或MEM-AP寄存器的数据)3)DAP没准备好，响应WAIT给HOST，此次通讯结束4)DAP出错，响应FAULT给HOST，此次通讯结束2、SWD命令详情1)主机 HOST 发出的请求由 8bit 组成Bit0：Start，固定为 1。Bit1：APnDP，0表示访问 DP 寄存器，1 表示访问 MEM-AP 寄存器。Bit2：RnW，0表示写请求，1表示读请求。Bit[4:3]：地址值A[3:2]，存放DP/AP寄存器的地址。Bit5：Parity，用于表示由{APnDP，RnW, A[2:3]}组成这四位数的奇偶总个数。Bit6：Stop，固定为0。Bit7：Park，固定为1。2)Target返回的ACK值由3bit组成ACK[0:2]==001，表示FAULTACK[0:2]==010，表示WAITACK[0:2]==100，表示OK response3)数据由32bit有效数据 + 1bit数据的奇偶校验位组成chip连接1.获取芯片IDSWD协议的操作步骤：1、SWD初始化步骤：a)初始化IO口，SWCLK和SWIO设置为输出模式，保持SWDIO=1，保证Host连续发送至少50个“1”，使得Target进行Line Reset。b)发送JTAG to SWD命令，0x79、0xE7两个byte(在ARM-Debug_Interface官方文档中可以查到)，随后再发送一次line reset操作。c)至少发送两个Idle信号，保持SWDIO=0。d)读取Chip ID，从而完成SWD初始化操作。此时只能访问DP寄存器组，AP寄存器组还无法访问。2、解锁AP步骤如下：1)CTRL/STAT寄存器写入0x50000000 (第28位和第30位)，开启debug port及其时钟2)SELECT寄存器写入的数据为0x000000F0，bank：0xF3)读取IDR寄存器(addr = 0xFC)的数据并验证4)SELECT寄存器写入的数据为0x00000000，bank：0x05)CSW寄存器写入0x00000002，data_size：32bit注意：1、CTRL/STAT寄存器：CSYSPWRUPREQ：System powerup requestCDBGPWRUPREQ：Debug powerup request2、SELECT寄存器：APSEL=0X00表示AHB访问；APBANKSEL：选择当前AP的bank地址。3、读取IDR寄存器的数值时，需要两次，第一次是dummy read，第二次读取到的才是正确的数据。(第二次也可以读RDBUFF寄存器)4、CSW寄存器：Size：访问MEM-AP的数据类型的大小其中：寄存器的数据是32bit–0b010，编程写入Flash的数据是16bit–0b001。2.读/写操作如果想要写入/读出MCU内部Flash的数值，需要用到两个AP寄存器：TAR(The Transfer Address Register)和DRW(The Data Read/Write Register)。1、写操作1)在TAR_W寄存器中写入要访问的内存地址数值 (addr = 0x08000000)2)在DRW_W寄存器中写入要往内存中写入的数据 (data = 0x12345678)2、读操作1)在TAR_W寄存器中写入要访问的内存地址数值 (addr = 0x08000000)2)从DRW_R寄存器中读取要访问的内存中存放的数据3)从RDBUFF寄存器(DP)中读取数据/从DRW_R寄存器(AP)中读取数据注意：由于读取AP寄存器的特殊性，当读取AP寄存器时，返回的数据是上一次传输的值。也就是说，有两种方式可以得到正确的 AP 寄存器的值。发送两次读DRW寄存器的操作发送一次读DRW寄存器的操作(读取上一周期的数据)，再发送一次读RDBUFF寄存器的操作(读取自己需要的数据)总的来说，读写DP寄存器没有迟滞，不需要读写两次。读取AP寄存器，有迟滞，第一次读AP，是上一周期的值，第二次读AP才是想要的值。写AP寄存器，没有迟滞。如TAR，DRW只需要写一次即可写进去。有道云笔记2022-08-05 15:08:26

docker  安装 iredmail 邮件系统 （2023.01.01） docker  安装 iredmail 邮件系统Docker拉动命令// 稳定版本docker pull iredmail/mariadb:stable快速开始创建用于存储自定义设置的docker环境变量文件mkdir iredmailcd iredmailtouch iredmail-docker.confecho HOSTNAME=iredmail.com >> iredmail-docker.conf// 邮件系统后缀域名echo FIRST_MAIL_DOMAIN=iredmail.com >> iredmail-docker.conf// 邮件系统登录密码echo FIRST_MAIL_DOMAIN_ADMIN_PASSWORD=123456 >> iredmail-docker.conf// mysql密码echo MYSQL_ROOT_PASSWORD=root >> iredmail-docker.conf// echo MLMMJADMIN_API_TOKEN=$(openssl rand -base64 32) >> iredmail-docker.conf// echo ROUNDCUBE_DES_KEY=$(openssl rand -base64 24) >> iredmail-docker.conf创建存储应用程序数据所需的目录cd iredmail// data目录存储iredmail服务所有挂载数据// data/nginx 存储nginx配置文件// data/www 存储项目文件mkdir -p data/{nginx,www}运行容器docker run \ --name iredmail \ --env-file iredmail-docker.conf \ -p 80:80 \ -p 443:443 \ -p 110:110 \ -p 995:995 \ -p 143:143 \ -p 993:993 \ -p 25:25 \ -p 465:465 \ -p 587:587 \ -p 3306:3306 \ -v /Users/anqiangdong/Workspace/Php/iredmail/data/www:/home/www \ -v /Users/anqiangdong/Workspace/Php/iredmail/data/nginx:/etc/nginx/sites-enabled \ -d \ iredmail/mariadb:stable 友情提示：查看tcp端口是否占用netstat -an | grep "25"结尾概述(需要涉及挂载项目到宿主机才用到)安装成功后，进入容器内部，需要操作以下几步骤第一种方法// 将 /opt/www/roundcubemail-1.4.11 拷贝到 /home/wwwcp -r /opt/www/roundcubemail-1.4.11 /home/wwwmv /home/www/roundcubemail-1.4.11 /home/www/roundcubemail// grep -r "roundcube" /etc/nginx// 修改nginx配置文件 roundcube-homepage.tmpl和roundcube.tmpl// 将所有路径/opt/www/roundcubemail替换为/home/www/roundcubemail，并重启容器服务第二种方法直接修改 /opt/www/roundcubemail 之前挂载的旧路径为 /home/www/roundcubemail-1.4.11ln -snf /home/www/roundcubemail-1.4.11 roundcubemail最后通过浏览器访问：localhost ，嗯，灰常nice😏有道云笔记2023.01.01

傅里叶变换与拉普拉斯变换 （2024.03.20） 本文中我越过基本概念，直接说理解。傅里叶变换通常关注的是不随时间衰减的信号，或者系统在特定频率下的响应。而拉普拉斯信号更多关注实际有阻尼的系统中，系统响应的长期变化。两者有紧密的联系。时域，频域（傅里叶形式）与复频域（拉普拉斯形式）表达式是对同一组信号的不同表述。再往大说一点，傅里叶变换，拉普拉斯变换，甚至包括不知道有没有机会讲的小波变换，都在做一件事，将信号在已知的基空间做投影，唯一的区别是基的选取不同。傅里叶变换的基为三角函数，为什么要选三角函数作为傅里叶变换的基，因为三角函数的一大特点是，经过线性时不变系统的操作（加减，倍乘，倍除，积分，求导）后，不改变波形，仅改变相角和幅值。这就给我们提供了一个巨大的好处，那就是在分析线性时不变系统时，仅通过信号的相角和幅值指标就能还原信号，可以忽略基函数波形本身。傅里叶反变换傅里叶反变换过程是通过一系列三角函数叠加生成时域上的任意周期函数。假设原函数 是一系列余弦函数的叠加：(1)将上述定义推广至连续的情况：(2)是角频率的实函数，也就是频谱。对傅里叶变换的初级理解可以止步与此。但是上式中完全没有体现相角的变量，也就是说，目前我们没有办法调整每个频率下的余弦函数的超前或滞后角度。为了同时控制每个角频率下幅值与相角的变化，即将(2)中只能表示长度的实函数 换成能同时表示长度与方向的虚函数 。即表示 角频率下的余弦函数基不但幅值变化为 倍，相角也要移动 度，幅值增益 和相角 都是角频率 的函数。由于 的系数已经从实数 变成了复数 ，为了使余弦函数与复数的乘积有意义，我们必须将余弦函数 替换成对应的极坐标形式 。(2)变为：(3)接下来证明(3)的正确性。根据欧拉公式：(3)化为：这里先不加证明的给出一个结论， 是频域上的偶函数， 是频域上的奇函数。注意函数相乘的奇偶性规律：奇偶为奇，奇奇为偶，偶偶为偶。因此上式中的虚数部分都是奇函数，在全频域的积分为零。根据三角函数公式：可见，我们实现了可以单独控制每个角频率下余弦函数的幅值与相角的功能。傅里叶变换理解了上面的傅里叶反变换过程，再倒推傅里叶正变换就变得非常简单了。(4)所代表的傅里叶反变换的过程可以这样理解，我们想知道 ，对于每个角频率 ，时域函数 中包含了“几个”傅里叶变换的基函数 ，这里的“几个”不光是有数值的含义（ 的幅值），也有相角的含义（ 的角度）。因此，“几个”在这里是个复数，即 。这个“几个”不是瞬时值，而是在全时域内的稳定结果。当原函数 与傅里叶基函数 的频率 不重合时， 在 的值为零，举例如下：当原函数（绿色）为 ，而傅里叶基函数（红色）为 时，两者的乘积在全时域的累积是0。当原函数（绿色）为 ，而傅里叶基函数为 时。当且仅当 时，存在不为零的 。当 时，同理，当 时， 。注意冲击函数 的如下性质：因此， 。验证上述傅里叶变换结果：注意冲击函数的面积为1：因此，拉普拉斯变换理解了傅里叶变换，拉普拉斯变换的意义就变得容易理解了。傅里叶变换中的基函数是 ，能用它拟合的函数具有共同特征，那就是，各个频率下的三角函数分量不随时间衰减。这个假设具有明显的局限性，要么是理想没有阻尼的系统，要么是研究有阻尼的系统对特定频率的瞬时响应（bode图）。因此，我们需要对傅里叶变换的基函数进行拓展：称为拉普帕斯算子。这样，我们就有了幅值（能量的开方）可以随时间按照指数规律变化的基函数， 的正负决定基函数究竟是不断增大还是逐渐收敛。因此，拉普拉斯变换的定义域（ ）是一个二维平面，叫做s域（s plane），每个自变量 包括实轴 和虚轴 两个维度。可见，傅里叶变换是拉普拉斯变换在 这条线上的“切片”。拉普拉斯变换后的结果和傅里叶变化一样，是一个复函数，唯一不同的是，傅里叶变化结果的复函数的模值是时不变的，而拉普拉斯变化结果的复函数的模值是对应傅里叶变化的复函数的模值乘以 即随时间变换。